半导体XRD研究所-锂电XRD检测价格

锂电XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

由于百分之一i百的晶态的试样比较难制备，所以通常使用差异分析法。假定结晶相百分数正比于衍射峰积分强度之和，非晶相百分数正比于非晶散射峰积分强度。

即Xc=PIc;Xa=QIa

则:Xc=Ic(Ic+kIa)X100%

【注意：Ic为晶体部分的衍射积分强度，Ia为非晶部分的衍射积分强度。K=Q/P，是晶体部分和非晶部分之间的单位物质的相对散射因子】

由上式已知，若温度K也已知，则即可求出样品的结晶点。但相对干同一个试模而言，K是常量。人们可利用测定二个不同结晶度的同一试模来计算出K值，从而得出试样的结晶度。

相对结晶度

如果将K值取1则Xc=Ic/(Ic+Ia)，即为相对结晶度。

这个统计方法虽然不准确，但对试样也存在择优取向，且同晶相合非晶相的化学成分也相同，可认为，锂电XRD检测多少钱，该法有比较意义。其实，得到结晶性相当麻烦，所以相对结晶度反而是比较常用的办法。

分析晶体衍射基础的公式是布拉格定律：2d sinθ=nλ

【注意:λ为X guang线的长度，n则为的正整数，即衍射级数】

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多锂电XRD检测~

锂电XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

XRD图谱显示石墨样品显示出两个主要衍射峰（2θ=26.36和44.32?)， 晶格间距分别为3.38?和2.04?。对于PAN硬质碳样品，还观察到两个主要的宽而突出的XRD衍射峰，表明PAN硬质碳具有低结晶度的无定形结构。随着炭化温度的升高，衍射峰向小角度移动。对于碳化温度为1050℃样品，在24.78和43.29处的衍射峰观察到晶格间距分别为3.59 ?和2.09?。与石墨相比，PAN硬碳的衍射角较小，相应的层间距较大，层间距相较于石墨变宽，为嵌入和去除锂离子提供了宽敞的通道。将所得PAN硬质碳用作锂离子电池的负极材料，其初始容量为343.5 mAh g?1，与石墨电极（348.6 mAh g–1）的初始容量相等，初始库仑效率比石墨电极高。并且PAN硬碳电极在不同电流速率下表现出优异的循环稳定性和倍率性能。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多锂电XRD检测~

锂电XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，锂电XRD检测价格，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

X射线衍射仪(XRD)相关术语解释

步进扫描粉末衍射仪的一种工作方式（扫描方式）。试样每转动一步（固定的Δθ）就停下来，测量记录系统开始测量该位置上的衍射强度。强度的测量也有两种方式：定时计数方式和定数计时方式。然后试样再转过一步，香港特别行政锂电XRD检测，再进行强度测量。如此一步步进行下去，完成角度范围内衍射图的扫描。

用记录仪记录衍射图时，采用步进扫描方式的优点是不受计数率表RC的影响，没有滞后及RC的平滑效应，锂电XRD检测哪家好，分辨率不受RC影响；尤其它在衍射线强度极弱或背底很高时特别有用，在两者共存时更是如此。因为采用步进扫描时，可以在每个θ角处作较长时间的计数测量，以得到较大的每步总计数，从而可减小计数统计起伏的影响。

步进扫描一般耗费时间较多，因而须认真考虑其参数。选择步进宽度时需考虑两个因素：一是所用接收狭缝宽度，步进宽度至少不应大于狭缝宽度所对应的角度；二是所测衍射线线形的尖锐程度，步进宽度过大则会降低分辨率甚至掩盖衍射线剖面的细节。为此，步进宽度不应大于尖锐峰的半高度宽的1/2。但是，也不宜使步进宽度过小。步进时间即每步停留的测量时间，若长一些，可减小计数统计误差，提高准确度与灵敏度，但将损失工作效率。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多锂电XRD检测~